Кафедра № 38 "Сверхпроводимость и физика наноструктур"

 

МИКРОСКОПИЯ АТОМАРНОГО РАЗРЕШЕНИЯ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ СТРУКТУР

(для групп Т9-38, Е9-02)

1-2 недели  Краткая история микроскопии. Микроскоп как экспериментальный прибор: параметры, характеристики, области применения, методики препарирования образцов.

3-4 недели  Процессы на поверхности в сильных электрических полях. Автоэлектронная эмиссия, автоионизация, десорбция и испарение полем.

5-6 недели  Острия в науке и технике. Источники частиц, электрические, магнитные, механические и другие зонды.

7-8 недели    Автоэлектронная спектроскопия.

9-10 недели Автоионная микроскопия. Зондовый масс-спектрометрический анализ в автоионной микроскопии.

11-12 недели Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия.

13-14 недели Атомно-силовая микроскопия.

15-16 недели Исследование дефектов на атомарном уровне. Особенности ультрамикроскопических анализов точечных дефектов и их комплексов невысокой кратности на поверхности и в объеме твердых тел. Специфика исследования радиационных дефектов.

 

ЛИТЕРАТУРА

Основная

1.*	539.2 С89	Суворов А.Л. Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах. - М.: Энергоиздат, 1982.
2.*	539.2 М60	Миллер М., Смит Г. Зондовый анализ в автоионной микроскопии: Пер. с англ. – М.: Мир, 1993.

 

 

Дополнительная

1*

539.2 С89

Структура и свойства поверхностных атомных слоев. - М.: Энергоатомиздат, 1989.

*Книга находится в читальном зале.